网传价格卖到了一万块上下的iPhone XS、iPhone XS Max也遇到了信号问题，甚至还不如上代iPhone X。很多人都将其归咎于Intel基带，指责苹果为了和高通的商业矛盾而放弃更好的高通方案，强制全面使用技术上差一截的Intel方案，给用户挖了个坑，也有人认为是射频问题。

不过相关天线工程师进行一番分析后发现了不一样的地方，通过分析基带、射频、天线三处后提出，前两个导致信号不好的可能性基本可以排除，根源其实不仅有天线，还有极为关键的是天线处手机外壳的材料选择。如果天线处手机外壳材料选择不合适，也会对信号传输品质影响尤为严重。如何确保材料选择是否合适，最关键的电性指标是介电性能（即介电常数Dk和介电损耗Df）。因材料介电性能的变化，会直接导致阻抗改变，从而间接影响到信号传输的品质和效率。

接下来让小编给大家介绍下材料介电性能之常见评估方案：包括介电性能的定义、测试原理、方法及测试设备：

序言

介电特性是电介质材料极其重要的性质。在实际应用中，电介质材料的介电常数和介质损耗是非常重要的参数。例如，

手机后盖材料要达到阻抗匹配要求不影响信号传输，从而要求材料在某些特定频率内（2G,3G,4G,WiFi，NFC，Bluetooth等）介电常数和介质损耗需控制在一定规格内；
制造电容器的材料要求介电常数尽量大，而介质损耗尽量小，从而实现小尺寸大容值；
制造仪表绝缘器件的材料则要求介电常数和介质损耗都尽量小，从而实现高阻绝缘；
而在某些特殊情况下，则要求材料在一定频率范围内要有较大介质损耗等。

常见需评估介电特性案例主要有：PCB材料、陶瓷基片、手机后盖及外壳、保护膜、汽车中控前面板等等。

1.介电常数定义

介电常数描述的是材料与电场之间的相互作用。图 1 显示了介电常数的主要计算公式。介电常数 (K)等于复数相对介电常数 (εr*)，或复数介电常数 (ε*) 与真空介电常数 (ε0) 的比值。复数相对介电常数的实部 (εr’) 表示外部电场有多少电能储存到材料中; 对于绝大多数固体和液体来说，εr’>1。复数相对介电常数的虚部 (εr’) 称为损耗系数，表示材料中储存的电能有多少消耗或损失到外电场中。εr’始终> 0，且通常远远小于εr’。